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有害物质测试仪

日期:2015年12月23日 10:24

 应用领域

►RoHS指令筛选检测

►无卤指令筛选检测

►玩具指令筛选检测

►金属镀层测厚

►合金成分分析

 

技术特点

配置最新专利技术“样品免拆分”检测模式:采用最新专利技术的光路结构,最小照射光斑直径可达到0.5mm,辅以精确的光斑定位系统,从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求

 

配置符合中国国家标准的样品混测功能:方形4mmⅩ4mm光斑设计,配合0.5mm光斑配合使用,能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能;从而显著节省测量时间,大幅度提高检测效率

 

配置ON-Line实时在线技术支持系统(选配):实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题,同时对用户操作人员进行培训

 

配置十六组复合滤光片:NDA200型配置了16组复合型滤光片,是业界配置最全、数目最多的配置之一;16组滤光片的配置,极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性

 

内置标准工作曲线:仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品认证要求的基础材料的工作曲线,方便用户直接使用;并与国家指定的认证检测实验室保持一致

 

具备开放的工作曲线技术平台:基于开放的工作曲线技术平台,电子生产企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线,确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性

 

分析软件操作系统分级管理:仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单,便于工厂有序管理;操作员菜单简单直观,避免仪器重要参数的误修改;工程师菜单功能强大,仪器的各种参数设置权限全部开放给用户

 

 

采用经典的迷宫式辐射防护结构:采用了经典的迷宫式辐射防护结构,在保持仪器外形美观操作方便的同时,彻底杜绝低能散射X射线的泄露

 

可选配专利技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能:纳优科技独创的“影响权系数法”多层镀层测厚技术,显著提高镀层厚度测量的准确度;最大可测量镀层数量为9层;彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题

外观设计实用美观:符合人体工程学的仪器外形设计,操作人员测量过程方便舒适

 

 

分析方法及系统软件

分析方法配置:

基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法

► 经验系数法

► 理论α系数法

软件功能描述:

 RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的PbHgCdTCrTBrCl等元素含量的分析

► 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(SU元素)

► 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析

► 分析报告的自主定制与输出打印

► 分析结果的保存、查询及统计

► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能

► 多层镀层厚度测量功能(选配)

 

主要配置

►美国Si-PIN电制冷半导体探测器

►侧窗钼(Mo)靶管

►标配16组复合滤光片

►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器

►具备符合中国国家标准的样品混侧功能

►内置标准工作曲线

►配置On-line实时在线技术支持与服务平台

►具备开放工作曲线技术平台

►分析软件操作系统分级管理

 

 

产品参数

名称:X荧光光谱仪

型号:NDA200

输入电压:220±5V/50Hz

消耗功率:≤500W

环境温度:15-30℃

环境湿度:≤80%(不结露)

主机外形(mm:长*宽*高=900*500*440

样品仓(mm:长*宽*高=430*380*120

主机重量:约60公斤

 

技术指标

元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素

测量时间:

        对聚合物材料,典型测量时间为200

        对铜基体材料,典型测量时间为400

检出限指标(LOD):

        对聚合物材料:LODPb)≤5mg/KgLODHg)≤5mg/KgLODTCr)≤5mg/KgLODTBr)≤5mg/KgLODCd)≤5mg/Kg

        对铜基体材料:LODPb)≤50mg/Kg

精密度指标,以连续测量7次的标准偏差σ表征:

    对聚合物(塑胶)材料:LODPb)≤15mg/KgLODHg)≤15mg/KgLODTCr)≤15mg/KgLODTBr)≤15mg/KgLODCd)≤7mg/Kg

        对铜基体材料:LODPb)≤50mg/Kg

准确度指标,以系统偏差δ进行表征

        对聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg

        对铜基体材料:δ(Pb)≤150mg/Kg

所属类别: 厂房设备

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